CT技术，电子元件检测的新热点

CT技术（计算机断层扫描技术）已成为电子元件检测领域的新热点。该技术通过X射线或其他辐射源对电子元件进行非破坏性扫描，获取其内部结构的三维图像，从而实现对元件内部缺陷、裂纹、气泡等问题的精确检测。CT技术具有高精度、...

阅读全文 冯澜 次浏览 2025-01-23 电子元件知识